場發射透射電子顯微鏡（FE-TEM）
生產廠商：美國FEI公司
型號：Tecnai G2 F20 S-TWIN
主要性能指標
加速電壓：20 ~ 200 kV；
信息極限分辨率：£0.14 nm；
STEM分辨率：0.20nm；
FEG最小束斑： £ 0.3nm；
相機常數：30~4500 mm；
電子束最大會聚角：±13°；
遠程操作接口，自動光闌接口；
電子槍：FEG， 能量分辨率￡0.7eV；
點分辨率：0.24 nm；
Cs (mm) / Cc (mm) 1.2 / 1.2；
TEM放大倍數：60 ~ 1000kx；
樣品最大傾角：±40°；
一體化能譜儀和CCD相機；
儀器使用范圍
廣泛應用于生物學、醫學、化學、物理學、地質學，金屬、半導體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領域。是研究各種材料的超顯微結構與性能關系所不可缺少的工具。
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